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微波暗室的一般技術指標及誤差詳細說明
 2021年08月25日 |閱讀次數(shù):1385

微波暗室參數(shù)微波暗室的電性能指標主要由靜區(qū)的特征來表征。

靜區(qū)的特性又以靜區(qū)的大小、靜區(qū)內(nèi)的較大反射電平、交叉極化度、場均勻性、路徑損耗、固有雷達截面、工作頻率范圍等指標來描述。影響微波暗室性能指標的因素是多元化的,也是很復雜的。在利用光線發(fā)射法和能量物理法對暗室性能進行仿真計算時,需要考慮電波的傳輸去耦,極化去耦,標準天線的方向圖因素,吸波材料本身的垂直入射性能和斜入射性能,多次反射等影響。但在實際的工程設計過程中,往往以吸波材料的性能作為暗室性能的關鍵決定因素。

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1)交叉極化度:由于微波暗室結構的不嚴格對稱、吸波材料對各種極化波吸收的不一致性以及暗室測試系統(tǒng)等因素使電波在暗室傳播過程中產(chǎn)生極化不純的現(xiàn)象。如果待測試天線與發(fā)射天線的極化面正交和平行時,所測試場強之比小于-25dB,就認為交叉極化度滿足要求。

2)多路徑損耗:路徑損耗不均勻會使電磁波的極化面旋轉,如果以來波方向旋轉待測試天線,接收信號的起伏不超過±0.25 dB,就可忽略多路徑損耗。

3)場均勻性:在微波暗室靜區(qū),沿軸移動待測試天線,要求起伏不超±2dB;在靜區(qū)的截面上,橫向和上下移動待測天線,要求接收信號起伏不超過±0.25 dB